Durch das Reduzieren von Fehlerraten die Lebensdauer elektronischer Komponenten deutlich erhöhen: Dieses Ziel verfolgt die europäische Forschungsinitiative Intelligent Reliability 4.0 (iRel40). Die beteiligten Partner aus dreizehn Ländern wollen dafür die Zuverlässigkeit entlang der gesamten Wertschöpfungskette optimieren – vom Wafer über den Chip und sein Package bis hin zum kompletten System. Das Fraunhofer IIS/EAS in Dresden entwickelt hierfür Simulationen, mit denen Elektronikdesign-Teams zukünftig effizient potenzielle Zuverlässigkeitsprobleme von Halbleitern und Systemen bewerten können – und das bereits vor ihrer Fertigung.
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Innovation & Technologie
Künstliche Intelligenz für kleine und mittlere Unternehmen
Die Universität Bielefeld hat die Förderzusage für das Projekt „LLM4KMU“ erhalten, das im Programm NEXT.IN.NRW des Landes Nordrhein-Westfalen unterstützt wird. Das Projekt verfolgt das Ziel, den Einsatz von Open Source Large Language Models (LLM) in kleinen und mittleren Unternehmen (KMU) zu optimieren.
