Durch das Reduzieren von Fehlerraten die Lebensdauer elektronischer Komponenten deutlich erhöhen: Dieses Ziel verfolgt die europäische Forschungsinitiative Intelligent Reliability 4.0 (iRel40). Die beteiligten Partner aus dreizehn Ländern wollen dafür die Zuverlässigkeit entlang der gesamten Wertschöpfungskette optimieren – vom Wafer über den Chip und sein Package bis hin zum kompletten System. Das Fraunhofer IIS/EAS in Dresden entwickelt hierfür Simulationen, mit denen Elektronikdesign-Teams zukünftig effizient potenzielle Zuverlässigkeitsprobleme von Halbleitern und Systemen bewerten können – und das bereits vor ihrer Fertigung.
Weiterlesen: https://idw-online.de/de/news765063
Innovation & Technologie
Security Champion Training des Fraunhofer IEM gilt als Best Practice
Das Certified Security Champion Training des Fraunhofer IEM macht Schule: Auf dem Fraunhofer-Symposium »Netzwert« stellte Dr. Matthias Meyer, Bereichsleiter für Softwaretechnik und IT-Sicherheit am Fraunhofer IEM, das erfolgreiche Schulungskonzept rund um die sichere Softwareentwicklung vor.
